Hochgenaue Formmessung moderner Optiken
Scher-interferometrisch vermessene Oberfläche
André Fabian Müller / BIAS
In einem gemeinsamen Transferprojekt entwickeln BIAS, Physikalisch-Technische Bundesanstalt und Mahr GmbH ein Messsystem für asphärische Oberflächenmessung für die industrielle Herstellung optischer Systeme.
Die hochgenaue Formmessung moderner Optiken ist eine wesentliche Voraussetzung für die industrielle Herstellung optischer Systeme. Die kostengünstige, präzise und zugleich flexible Messung bestimmter komplexer Oberflächenformen, sogenannter Asphären, ist dabei nach wie vor eine ungelöste Herausforderung.
Im Rahmen von zwei von der Deutschen Forschungsgemeinschaft unter dem Akronym OPAL geförderten Forschungsprojekte wurde dazu ein neuartiges Verfahren zur Erfassung solcher Formen untersucht. Diese neue Methode ermöglicht es erstmals, mehrere Lichtquellen mit verschiedenen Positionen gleichzeitig anstatt nacheinander zu verwenden.
Damit wird ein wesentliches Problem der optischen Messtechnik gelöst, nämlich die gesamte Oberfläche der Proben gleichzeitig so zu beleuchten, dass eine ganzflächige Messung möglich wird. Auf diese Weise kombiniert die Methode die Messung größerer Optiken mit der hohen Präzision der hier verwendeten interferometrischen Messmethode.
Die Ergebnisse sollen nun Im Rahmen des Projektes OPAL-Transfer zusammen mit der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt in Braunschweig und der Firma Mahr GmbH in Göttingen im Rahmen eines sog. Transferprojektes zu einem Prototyp eines Messsystems weiterentwickelt werden.
Das Gesamtziel des Projektes ist es, den oben beschriebenen Ansatz in einem praxisorientierten Umfeld zu testen, und im Rahmen einer beispielhaften Anwendung zu einem entsprechenden Messsystem weiterzuentwickeln. Für die Umsetzung in eine Anwendung ist vor allem interessant, welche Typen von Optiken sich messtechnisch erfassen lassen, wie weit die Messzeit verringert werden kann und wie aufwändig die Handhabung ist.
Wissenschaftliche Ansprechpartner:
Dr. rer. nat. Claas Falldorf, Tel. +49 421 21858013, E-Mail: Falldorf@bias.de
https://www.bias.de/kohaerente-optik-nanophotonik
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