Schichtdickenbestimmung im Nanometerbereich
Dieses Verfahren dient der schnellen und unkomplizierten quantitativen Bestimmung von Schichtdicken. Die hohe Genauigkeit des Verfahrens und der entsprechenden Vorrichtung wird durch die Kombination von Ellipsometrie und Oberflächenplasmonenresonanz erreicht. Für das Verfahren ist es nicht nötig, den Brechungsindex der zu bestimmenden Schicht zu kennen.
Weitere Informationen: PDF
IMG Innovations-Management GmbH
Tel.: +49 (0)631/31668-0
Ansprechpartner
Dr. Klaus Kobek
Media Contact
Alle Nachrichten aus der Kategorie: Technologieangebote
Neueste Beiträge
Selen-Proteine …
Neuer Ansatzpunkt für die Krebsforschung. Eine aktuelle Studie der Uni Würzburg zeigt, wie ein wichtiges Enzym in unserem Körper bei der Produktion von Selen-Proteinen unterstützt – für die Behandlung von…
Pendler-Bike der Zukunft
– h_da präsentiert fahrbereiten Prototyp des „Darmstadt Vehicle“. Das „Darmstadt Vehicle“, kurz DaVe, ist ein neuartiges Allwetter-Fahrzeug für Pendelnde. Es ist als schnelle und komfortable Alternative zum Auto gedacht, soll…
Neuartige Methode zur Tumorbekämpfung
Carl-Zeiss-Stiftung fördert Projekt der Hochschule Aalen mit einer Million Euro. Die bisherige Krebstherapie effizienter gestalten bei deutlicher Reduzierung der Nebenwirkungen auf gesundes Gewebe – dies ist das Ziel eines Projekts…